| Property |
Value |
| dbo:abstract
|
- Az atomerő-mikroszkópia (atomic force microscopy – AFM) vagy pásztázóerő-mikroszkópia (scanning force microscopy – SFM) egy nagyon magas felbontású pásztázószondás-mikroszkópia (scanning probe microscopy – SPM). A nanométer tört részével megegyező felbontásban dolgozik, ami ezerszer jobb, mint az . (hu)
- Az atomerő-mikroszkópia (atomic force microscopy – AFM) vagy pásztázóerő-mikroszkópia (scanning force microscopy – SFM) egy nagyon magas felbontású pásztázószondás-mikroszkópia (scanning probe microscopy – SPM). A nanométer tört részével megegyező felbontásban dolgozik, ami ezerszer jobb, mint az . (hu)
|
| dbo:wikiPageID
| |
| dbo:wikiPageLength
|
- 13507 (xsd:nonNegativeInteger)
|
| dbo:wikiPageRevisionID
| |
| prop-hu:wikiPageUsesTemplate
| |
| dct:subject
| |
| rdfs:comment
|
- Az atomerő-mikroszkópia (atomic force microscopy – AFM) vagy pásztázóerő-mikroszkópia (scanning force microscopy – SFM) egy nagyon magas felbontású pásztázószondás-mikroszkópia (scanning probe microscopy – SPM). A nanométer tört részével megegyező felbontásban dolgozik, ami ezerszer jobb, mint az . (hu)
- Az atomerő-mikroszkópia (atomic force microscopy – AFM) vagy pásztázóerő-mikroszkópia (scanning force microscopy – SFM) egy nagyon magas felbontású pásztázószondás-mikroszkópia (scanning probe microscopy – SPM). A nanométer tört részével megegyező felbontásban dolgozik, ami ezerszer jobb, mint az . (hu)
|
| rdfs:label
|
- Atomerő-mikroszkóp (hu)
- Atomerő-mikroszkóp (hu)
|
| prov:wasDerivedFrom
| |
| foaf:isPrimaryTopicOf
| |
| is dbo:wikiPageRedirects
of | |
| is foaf:primaryTopic
of | |
