Az atomerő-mikroszkópia (atomic force microscopy – AFM) vagy pásztázóerő-mikroszkópia (scanning force microscopy – SFM) egy nagyon magas felbontású pásztázószondás-mikroszkópia (scanning probe microscopy – SPM). A nanométer tört részével megegyező felbontásban dolgozik, ami ezerszer jobb, mint az . (hu)
Az atomerő-mikroszkópia (atomic force microscopy – AFM) vagy pásztázóerő-mikroszkópia (scanning force microscopy – SFM) egy nagyon magas felbontású pásztázószondás-mikroszkópia (scanning probe microscopy – SPM). A nanométer tört részével megegyező felbontásban dolgozik, ami ezerszer jobb, mint az . (hu)