Property Value
dbo:abstract
  • A és a szilárdtestfizikai kutatásban alkalmazott kapacitás-feszültség mérés (angol neve nyomán gyakran C-V mérés) egy elterjedt módszer félvezető anyagok, illetve a belőlük készített elektromos jellemzésére. Az eljárásban az vizsgált tartomány két pontja (elektromos kontaktusa) között elektromos feszültséget keltenek, és az ezek közötti elektromos kapacitást mérik a feszültség függvényében. A mérés elve azon a jelenségen alapul, hogy félvezetőkben az előfeszítés mértékétől függ a mérete, amely pedig az eszköz elektromos kapacitására van hatással. A kapacitásváltozáshoz szükséges feszültség meghatározása például a tiltott sávon belüli állapotokról, illetve csapdaállapotokról, a töltéshordozó-koncentrációról szolgáltathat információt. Az eljárással többek között Schottky-diódák, illetve eszközök (hu)
  • A és a szilárdtestfizikai kutatásban alkalmazott kapacitás-feszültség mérés (angol neve nyomán gyakran C-V mérés) egy elterjedt módszer félvezető anyagok, illetve a belőlük készített elektromos jellemzésére. Az eljárásban az vizsgált tartomány két pontja (elektromos kontaktusa) között elektromos feszültséget keltenek, és az ezek közötti elektromos kapacitást mérik a feszültség függvényében. A mérés elve azon a jelenségen alapul, hogy félvezetőkben az előfeszítés mértékétől függ a mérete, amely pedig az eszköz elektromos kapacitására van hatással. A kapacitásváltozáshoz szükséges feszültség meghatározása például a tiltott sávon belüli állapotokról, illetve csapdaállapotokról, a töltéshordozó-koncentrációról szolgáltathat információt. Az eljárással többek között Schottky-diódák, illetve eszközök (hu)
dbo:wikiPageExternalLink
dbo:wikiPageID
  • 1576413 (xsd:integer)
dbo:wikiPageLength
  • 11538 (xsd:nonNegativeInteger)
dbo:wikiPageRevisionID
  • 21690884 (xsd:integer)
prop-hu:author
  • Lachlan E.Black (hu)
  • Lachlan E.Black (hu)
prop-hu:chapter
  • Appendix A. Capacitance–Voltage Measurements (hu)
  • Appendix A. Capacitance–Voltage Measurements (hu)
prop-hu:chapterurl
prop-hu:date
  • 2019 (xsd:integer)
prop-hu:doi
  • 10 (xsd:integer)
prop-hu:isbn
  • 978 (xsd:integer)
prop-hu:issn
  • 2190 (xsd:integer)
prop-hu:publicationPlace
  • Cham (hu)
  • Cham (hu)
prop-hu:publisher
  • Springer International Publishing (hu)
  • Springer International Publishing (hu)
prop-hu:title
  • New Perspectives on Surface Passivation: Understanding the Si-Al2O3 Interface (hu)
  • New Perspectives on Surface Passivation: Understanding the Si-Al2O3 Interface (hu)
prop-hu:url
prop-hu:wikiPageUsesTemplate
prop-hu:year
  • 2016 (xsd:integer)
dct:subject
rdfs:label
  • Kapacitás-feszültség mérés (hu)
  • Kapacitás-feszültség mérés (hu)
prov:wasDerivedFrom
foaf:isPrimaryTopicOf
is foaf:primaryTopic of