| Property |
Value |
| dbo:abstract
|
- A szilárdtestfizika a egyik ága, a szilárd anyagok tanulmányozásának tudománya, melynek legáltalánosabb elméleti és gyakorlati eszközei a kvantummechanika és a kristálytan. A szilárd anyag makroszkopikus elektromos, mechanikai tulajdonságait magyarázza az azt felépítő atomok elemi tulajdonságaiból és az anyag szerkezetéből kiindulva. A kristályrácsban található atomok periodicitása miatt olyan modellek alkothatók, melyekben a tömbi anyag sok tapasztalt jellemzője (többek között elektromos, mágneses, mechanikai, optikai, spintronikai stb. szempontok szerint) megmagyarázható. A szilárdtestfizika adja az anyagtudomány elméleti hátterét, melynek számos gyakorlati alkalmazása van például a , és a nanotechnológiában. (hu)
- A szilárdtestfizika a egyik ága, a szilárd anyagok tanulmányozásának tudománya, melynek legáltalánosabb elméleti és gyakorlati eszközei a kvantummechanika és a kristálytan. A szilárd anyag makroszkopikus elektromos, mechanikai tulajdonságait magyarázza az azt felépítő atomok elemi tulajdonságaiból és az anyag szerkezetéből kiindulva. A kristályrácsban található atomok periodicitása miatt olyan modellek alkothatók, melyekben a tömbi anyag sok tapasztalt jellemzője (többek között elektromos, mágneses, mechanikai, optikai, spintronikai stb. szempontok szerint) megmagyarázható. A szilárdtestfizika adja az anyagtudomány elméleti hátterét, melynek számos gyakorlati alkalmazása van például a , és a nanotechnológiában. (hu)
|
| dbo:wikiPageID
| |
| dbo:wikiPageInterLanguageLink
| |
| dbo:wikiPageLength
|
- 19526 (xsd:nonNegativeInteger)
|
| dbo:wikiPageRevisionID
| |
| prop-hu:alcím
|
- Quantum states and electronic transport (hu)
- Applications to Key Materials (hu)
- Quantum states and electronic transport (hu)
- Applications to Key Materials (hu)
|
| prop-hu:cím
|
- Semiconductor Nanostructures (hu)
- Molecular Beam Epitaxy (hu)
- Semiconductor Material and Device Characterization (hu)
- Semiconductor Nanostructures (hu)
- Molecular Beam Epitaxy (hu)
- Semiconductor Material and Device Characterization (hu)
|
| prop-hu:hely
|
- Oxford (hu)
- Hoboken, New Jersey (hu)
- Oxford (hu)
- Hoboken, New Jersey (hu)
|
| prop-hu:isbn
|
- 978 (xsd:integer)
- 9780080946115 (xsd:decimal)
- 9780199534432 (xsd:decimal)
|
| prop-hu:kiadás
| |
| prop-hu:kiadó
|
- Oxford University Press (hu)
- John Wiley & Sons, Inc. (hu)
- Elsevier Science (hu)
- Oxford University Press (hu)
- John Wiley & Sons, Inc. (hu)
- Elsevier Science (hu)
|
| prop-hu:szerző
|
- Thomas Ihn (hu)
- Dieter K. Schroder (hu)
- Robin F.C. Farrow (hu)
- Thomas Ihn (hu)
- Dieter K. Schroder (hu)
- Robin F.C. Farrow (hu)
|
| prop-hu:wikiPageUsesTemplate
| |
| prop-hu:év
|
- 2006 (xsd:integer)
- 2009 (xsd:integer)
- 2012 (xsd:integer)
|
| dct:subject
| |
| rdfs:label
|
- Szilárdtestfizika (hu)
- Szilárdtestfizika (hu)
|
| owl:sameAs
| |
| prov:wasDerivedFrom
| |
| foaf:isPrimaryTopicOf
| |
| is dbo:wikiPageRedirects
of | |
| is prop-hu:kutatásiTerület
of | |
| is foaf:primaryTopic
of | |
